推力垫片缺陷试块阵列涡流测试
ytzx
2026-01-13
推力垫片缺陷试块阵列涡流测试报告
测试地点：公司实验室
试块类型：推力垫片试块
检测人员：田立强
2026 年 1 月 8 日
为精准检测推力垫片试块的缺陷情况，验证阵列涡流检测技术在该类工件上的适用性，本次于公司实验室开展专项测试。测试由田立强负责，于2026年1月8日对邮寄至实验室的推力垫片试块进行编号标记后，采用MEA-128阵列涡流检测仪及超柔性阵列探头，对各编号试块逐一实施涡流检测，旨在明确试块缺陷位置、分布及检测设备适配性，为后续缺陷评估及检测方案优化提供数据支撑。现将本次测试的设备、探头选用及具体测试结果分析如下。
一、本次测试所用的设备、探头和试块
1、对邮寄过来的试块进行编号标记
被检工件
2、此次测试的设备为 MEA-128 阵列涡流检测仪
3、选用探头，超柔性阵列探头
二、测试结果分析
1#试块缺陷位置处于狭窄区域，不适合用阵列探头，建议采用专用的笔式探头
2#试块经工程师测试发现一处缺陷，如下图红色标记位置：
检测结果图（C 扫图显示两个是重覆扫查）
3#试块经工程师测试发现一处缺陷，如下图红色标记位置：
检测结果图（C 扫图显示两个是重覆扫查）
4#试块经工程师测试发现一处缺陷，如下图红色标记位置：
检测结果图（C 扫图显示两个是重覆扫查）
5#试块缺陷位置处于狭窄区域，不适合用阵列探头，建议采用专用的笔式探头
6#试块经工程师测试发现一处缺陷，如下图红色标记位置：
检测结果图（C 扫图显示两个是重覆扫查）
7#试块经工程师测试发现一处缺陷，如下图红色标记位置：
检测结果图（C 扫图显示两个是重覆扫查）